特征激发峰值和发射峰值位置是荧光材料的两个重要参数。文中提出一种固体荧光样品的快速寻峰方法一固体对比法。该方法采用光谱平坦的高漫反射板为中介，利用测得的样品信号和高漫反射板信号间的内在联系，通过计算消除了仪器光源、探测器响应等诸多因素对测量结果的影响，保证了测量结果的正确可靠。该方法对非白校准型荧光光谱仪以及白校准型荧光光谱仪均能适用，且测量过程简单，测量结果精度高。