低温面源黑体作为红外谱段的标准辐射源，广泛应用于红外遥感器、热像仪的标定中。随着红外技术的发展，其应用越来越广泛并已经开始向低温领域发展。温度均匀性是面源黑体的重要指标，介绍一种可以提高面源黑体温度均匀性的结构，实验结果表明这种结构可使面源黑体温度均匀性优于0．2K。