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基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形

作者: 韩斌 乔彦峰 韩旭东 于晓波 来源:光学技术 日期: 2024-08-16 人气:41
在较高精度面形测量的光学方法中很多测量范围都受到光波波长的限制。简述了一种利用光栅投影系统 来增强其垂直方向测量范围的新方法。通过投影仪来产生能够消除表面低频变化影响的变形光栅测量该栅线经过被检面的变形图像通过处理得到表面的高频信 息然后将高频和低频信息叠加得到表面轮廓图。通过实验模型的建立证明该方法具有测量精度范围宽能实时地得到表面轮廓图。
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