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对计量型原子力显微镜纳米测量系统的比对验证

作者: 杜华 高思田 金其海 朱小平 来源:现代测量与实验室管理 日期: 2022-06-30 人气:8
对计量型原子力显微镜纳米测量系统的比对验证
原子力显微镜是广泛应用的纳米测量仪器。中国计量科学研究院成功研制了计量型原子力显微镜纳米测量系统,本文介绍了该系统的技术特点和指标,并通过与发达国家的比对测试验证了该系统在测量原理、测量精度及可溯源性方面已达到了国际先进水平。
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