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多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究

作者: 蔡建国 向怡 瞿志海 蒋全兴 来源:电工技术 日期: 2022-06-05 人气:6
多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究
以正交试验的理论为基础,通过对被干扰设备进行试验测量获得大量的数据,然后用正交试验法分析快速瞬变脉冲群对微控器的干扰特性。该方法开辟了电磁兼容性研究领域的一个新途径。
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