介绍了用于IP核测试的内建自测试方法（BIST）和面向测试的IP核设计方法，指出基于IP核的系统芯片（SOC）的测试、验证以及相关性测试具有较大难度，传统的测试和验证方法均难以满足。以编译码器IP核为例，说明了基于BIST的编译码器IP核测试的基本实现原理和具体实现过程，通过加入测试外壳实现了对IP核的访问、隔离和控制，提高了IP核的可测性。