使用中发现，B型试块标准和使用要求与Ketos环和AS5282环试块存在差异。为此对三种试块的标准和使用现状进行了调查，对试块的硬度、磁化电流对应显现孔数以及表面剩余漏磁场等进行了对比测试和分析。结果表明，B型试块作为标准试块使用时存在不确定性。同时对B型试块标准GB／T23906-2009和MH／T3008-2004提出了修改建议。