详细描述了进行亚微米、深亚微米光记录和探测的测试仪器,其探测功率可达30 mW,最小的探测时间为20 ns,探测的最小光点200 nm左右,带有CCD观察的系统可方便地定位及进行图像处理,整个测量过程均在计算机控制下进行,操作非常方便.它是对高密度光盘材料记录性能进行测量.以及对深亚微米,乃至纳米记录材料进行研究的有效工具.