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> 存储测试技术
微型脉冲供电式光电倒置开关
作者:
杨艳
祖静
张瑜
来源:
火炮发射与控制学报
日期: 2023-07-23
人气:5
针对存储测试技术对测试系统低功耗的要求,研制了微型脉冲供电式光电倒置开关。介绍了研制背景和意义,阐述了设计过程及工作原理。此种开关是一种新型开关,具有低电压驱动、低功率损耗、微小体积、延时功能和适用于批量生产的微型器件,其工作时不需要人为接触操作,只需要将开关倒置,就能实现关、开状态的单向转换。该微型开关是电源控制技术的关键技术,也是实现存储测试系统微功耗的关键部件,实验已取得预期的效果。
关键词:
电子技术
存储测试技术
低功耗
倒置开关
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