本文介绍一种应用多道分析仪和光子计数器组成的检测系统来测定光阀响应时间的技术，以及以一个液晶件作样品应用该技术对它进行检测的实验，并对检测系统进行误差分析。

提出了采用单片机 AT89C51作为中央主控器 ,对光谱仪进行控制和信号检测的新系统。检测信号送计算机 ,由计算机进行数据分析和处理。研究了光子计数器的特性 ,分析了单片机有关端口的特点 ,总结了有关软件和硬件设置的技巧 ,给出了实验的光谱图形。

为提高多像素光子计数器（MPPC）的光子探测效率,量子效率和动态探测范围,研究了MPPC的光子探测性能,特别是光子分辨能力。以MPPC作为光子探测器件,采用半导体制冷降噪技术及信号外触发技术将其温度稳定在15℃,暗噪声降低为6.5×10-4count/pulse;采用统计学方法,利用泊松分布拟合MPPC输出信号。结果显示,衰减后的入射脉冲光强分布符合泊松分布的特性。根据MPPC的光子探测效率,分析计算出MPPC的能量分辨率;综合脉冲分布特性及能量分辨率,得出了入射到MPPC上的光脉冲能量的平均值。实验结果表明,MPPC在532nm波长下,能量分辨率为1.96×10-18 J;不同衰减倍率下,入射到MPPC的光脉冲平均光子数分别为1.665和4.201;显示MPPC具有光子分辨能力,适用于大动态范围的弱光探测。