简要的叙述了光学薄膜光学特性的通用计算方法，即特征矩阵法。采用这种方法的逆运算形式，应用计算机辅助计算和检测技术，在国内首次完成对多层光学薄膜镀膜后或制备过程中各膜层光学厚度的检测。同时介绍了有关的计算公式和计算程序流程，最后给出试验数据结果和结论。

介绍了一种采用商用发光二极管作为探测器的新型太阳光度计。阐述了系统的结构以及该仪器在监测气溶胶光学厚度领域的应用，并与传统的太阳光度计进行了对比试验。试验表明，两种仪器具有很好的一致性。