等离子体是继气体、液体、固体后的第四种物质的聚集态。等离子体物理学是一门蓬勃发展的新兴科学，其应用领域包括受控热核聚变、空间科学、环境科学、微电子与信息产业、材料合成与处理、国防和高技术应用诸方面。目前，测量等离子体特征谱线最简单的方法就是使用荷兰Avantes公司的微小型、高分辨率、多通道光纤光谱仪。

国际光学工程学会(SPIE)于1995年4月在佛罗里达州Orlando举行成像光谱学术交流会，会议论文发表在Proc.ofSPIE第2480卷上。论文集分三部分，第一部分追溯了成像光谱技术发展历史和进展;第二部分是它的应用;第三部分是超多光谱成像技术。本文重点阐述它的应用。