为了诊断z箍缩等离子体电子温度，研究了氩的双电子伴线与类氦共振线的强度比和等离子体电子温度的关系。利用椭圆弯曲晶体谱仪在“阳”加速器上探测x射线光谱，采用x射线胶片接收信号。针对谱仪获取的氩的类氦谱线及类锂伴线，计算了伴线k与共振线w的强度比以及伴线j与禁戒谱线z之和与共振线强度比，利用伴线与共振线强度比值和等离子体电子温度的关系诊断出电子温度为960～1060keV，实验结果证明谱线强度比值法是一种探测电子温度很有效的诊断方法。

设计了可用于X射线成像用的聚焦型超环面晶体谱仪,讨论了基于布拉格几何结构的超环面及球面弯曲晶体聚焦特性,给出了基于超环面晶体X射线2维单能成像的光源、晶体及探测器的最佳位置,在中国工程物理研究院激光聚变研究中心进行了X射线背光成像实验。利用超环面弯曲晶体作为成像器件,其弧矢及子午平面的曲率半径分别为290mm及190mm,该曲面晶体具有极高的聚光效率。实验中利用X射线成像板获取了Cr的Kα射线辐射形成的金属栅格2维图像。实验结果表明,研制的超环面晶体能够用于X射线单能成像;分析图像的光谱信息可知,在弧矢方向的空间分辨力约为100μm,实验结论符合预期目标。