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> 高翠云
通用低频测试系统软硬件平台及可测试性研究
作者:
高翠云
李岳民
来源:
中国仪器仪表
日期: 2023-03-04
人气:8
针对国内仪器仪表行业产品缺乏开放性、互换性和可测试性的现状,本文提出建立具有自主产权的通用低频测试平台。基于用户需求分析进行软硬件建模,采用多总线DSP高速数据采集技术为核心建立硬件平台,利用底层软件的组件技术开发软件平台。在电力测试设备、电工电子实验教学设备的设计应用中效果很好。
关键词:
开放性
通用虚拟仪器平台
DSP
组件技术
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