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> 孙远翔
基于单片机AT89C52的漏磁检测实验系统开发
作者:
郭众宝
孙远翔
唐永刚
来源:
机电产品开发与创新
日期: 2022-07-11
人气:5
本文介绍了基于单片机技术的漏磁检测系统.首先介绍了漏磁检测的原理,然后结合电子电路技术,单片机技术,开发了一套漏磁检测实验系统.该系统包括信号的采集,预处理,模/数转换,数据结果存储,数据串口发送.单片机的软件系统采用模块化设计,分为数据采集、数据存储、数据串口发送模块等.
关键词:
漏磁检测
AT89C52
铁电存储器
FM1808
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