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自聚焦光纤列阵参数测试仪及应用

作者: 黄伟同 杨瀛海 来源:仪器仪表学报 日期: 2023-06-27 人气:19
自聚焦光纤列阵参数测试仪及应用
本文详细报导了自聚集光纤列阵参数测试仪的结构、性能和使用。利用该测试仪可以测量阵列的共轭距离、传象宽、分辨率和光量分布等主要参数,从而得到列阵的其它参数。本测试仪的生产为光纤阵列的制造和使用,提供了可靠的测试设备。
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