提出了一种利用光纤空间M—z干涉仪测量压电陶瓷（PzT）相位调制器相移系数的新方法。光纤空间M—Z干涉仪的空间干涉场图与PZT的相移呈单值函数，可有效克服出射光强与相移呈多值函数的问题。设计了测试系统并应用该系统实际测量了一种PZT的相移系数，对结果进行了数字拟合，线性性好。与已有的理论计算和根据光强测量的方法比较，这种方法具有更高的准确性和重复性。PZT相位调制器是光纤干涉系统中的重要组成部分，这种测定相移系数的新方法，可广泛用于各种光纤干涉系统中。