微结构是微器件或微系统的基本组成部分，对其运动特性的测试有助于对器件或系统的性能和稳定性进行评价．为此，针对频闪成像技术获得的微结构运动图像序列，对数字散斑相关技术应用于微结构平面运动特性测试的实现方法进行了探讨，采用梯度法实现全局刚性位移的精确测量，并作为牛顿迭代法的初值进行区域变形量的提取。具有较高的计算效率SiCRF微谐振器平面运动特性测试实验表明，微结构平面刚性位移测量的分辨率和偏差分别能够达到1／100像素和1／20像素，区域变形信息提取的有效性也得到了初步验证．