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基于FPGA的存储测试系统的设计

作者: 刘成明 李新娥 张艳兵 来源:山西电子技术 日期: 2022-07-01 人气:6
基于FPGA的存储测试系统的设计
针对某些特殊的测试试验要求测试系统高性能、微体积、低功耗,在存储测试理论基础上,进行了动态存储测试系统的FPGA设计。介绍了该系统的组成,对控制模块进行了详细设计。针对测试环境的多样性设计了采样策略,能对频率多变的信号进行实时记录。通过实验验证了设计的正确性,证实了所设计的采样策略对多种变化规律的信号采集具有通用性,扩展了系统的应用范围。
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