基于非晶硅面阵探测器，以像质计（Image Quality Indicator，IQI）灵敏度达到成像质量最高级B级，研究了IQI灵敏度各制约参数并进行优化．基于优化理论和试验数据，以被检测物体的等效钢厚为自变量，将各制约参数的最优值集为一曲线，为数字射线成像（Digital Radiography，DR）检测提供有效的工艺参数．