本文对计量保证方案（MAP）的核心──测量过程的统计控制进行研究．探讨测量过程的主要控制技术：t检验和F检验，把t分布和F分布的分位数的计算问题统一地归结为了1/2整数倍贝塔分布的分位数计算．并设计编制计算程序，快速、系统地算得任意自由度t分布和F分布的分位数，为测量过程的控制和计量保证方案的实施提供了一个有效的数据处理方法．