推扫型干涉成像光谱仪去除条带非均匀性的方法
分析了推扫型干涉成像光谱仪的结构特点和工作原理,指出了由于加工误差导致入射狭缝的宽度不均匀,使干涉图像沿狭缝方向存在亮度差异,复原后的光谱立方体图像上出现平行于推扫方向的非均匀性条带,影响了光谱立方体的图像质量和光谱精确度.采取校正系数法去除条带,讨论了获取校正系数的方法,并使用仪器的定标干涉数据提取成像面上沿狭缝方向的不均匀特性,获得了校正系数,对干涉图像进行处理以消除条带.结果表明:校正系数法能够去除大部分条带.根据处理后残余条带的情况,在没有在轨定标数据的情况下,使用均匀景物的光谱立方体数据提取不均匀特性,修改了校正系数,有效地消除了残余条带.
成像光谱技术的研究与发展
成像光谱技术是20世纪70年代末发展起来的一项新型航天航空遥感技术.综述了成像光谱技术的发展背景,在海洋、大气、植被、地质研究等领域的应用现状.介绍了成像光谱技术的几种主要分类、各种类型的特点以及国内外具有代表性的方案.提出了大孔径干涉型成像光谱仪的原理,并展示了攻关样机和实验数据.
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