在实际应用中出现的数显卡尺测量误差是由定栅误差和卡尺本身制造误差（零件的形状和位置误差）、使用引起的误差（测量力引起的误差、不准确的测量引起的误差）以及其它各种偶然原因导致的误差影响的。

我们做一个小实验．把一块尺寸较大的量块放在光学计测头下面，对好零位．然后用手接触量块．手的温度传到量块上．这时从目镜中观察到刻度尺寸上的读数迅速增大．一两分钟内甚至会增大几个微米。实际工作中有时发现各次检测结果相差很大，常常是因为温度发生变化的缘故。在国家检定规程中．对检定温度及平衡温度的时间均作了相应规定。

针对旋转机械设备受到测量误差及系统误差等因素影响,导致滚动轴承多故障模态信号难以分离的缺陷,提出一种误差影响下滚动轴承多重故障模态特征信号的盲源分离方法。对故障信号进行白化预处理得到白化矩阵,进而计算白化矩阵的4阶累积量,并构建4阶累积量矩阵;将累积量矩阵对角化,并取前K个较大特征值对应的特征向量作为新累积量矩阵;利用总体最小二乘方法估计最小化新累积量矩阵与目标正交矩阵的误差函数,最大程度地联合近似对角化新累积量矩阵,实现多故障信号的分离估计;为进一步评估该方法的有效性,选用时域相关系数及时频域双谱估计两种评价方法对分离结果进行验证。结果表明,该方法分离出来的信号与源信号相关系数高,并且时频域双谱估计相似,是一种有效分离多重故障的方法。