我们用一台干涉仪，以机械方法使光程发生变化，然后和晶体电光效应引起的的光程变化相比较，提供了时种确定晶体电光系数相时符号的简单方法。

对基于马赫-曾德尔(Mach-Zehdner)干涉仪的聚合物电光系数测量方法进行了分析.提出了改善性能的方法并进行了讨论.采用光纤干涉仪代替空间光学干涉仪对样品电光系数进行透射式测量,采用压电陶瓷(PZT)片调节测量系统的工作点实现反馈控制,有效地减小了法布里-珀罗(Fabry-Perot)谐振效应的影响;通过精确控制光纤干涉仪干涉臂长差和合理选择光纤耦合器的耦合比,可以提高干涉的可见度,从而提高系统的测量精度.实验结果表明,系统的干涉可见度为0.84,可分辨的最小相位变化约为6×10-6rad.