为了提高光刻机硅片台和掩模台的运动精度，建立光刻机精密运动平台的几何及运动误差模型。引入低序体阵列描述光刻机的拓扑结构，采用齐次坐标变换表达多体系统中典型体的几何和运动误差，应用多体系统运动学建立了系统的结构和运动关系以及相应的定位误差方程。进一步分析了光刻机的运动误差链，推导了光刻机运动通用误差模型。以某光刻机精密工作台为例进行误差建模与分析，该方法和结果可为光刻机精度设计提供参考。